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新品便攜式電阻率/方阻測試儀/便攜式電阻測定儀/方阻儀 型號：DP-KDY-1A

便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

   本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規定設計。

   它主要由電器測量部份（主機）及四探針頭組成，需要時可加配測試架。

（1）測量范圍：

可測方塊電阻：  0.1～1999Ω/_口

        當被測材料電阻率≥200Ω·cm數字表顯示0.00。

（2）恒流源：

      輸出電流：DC  0.1mA～10mA分兩檔

      1mA量程：0.1～1mA  連續可調

      10mA量程：1mA ～10mA連續可調

      恒流精度：各檔均優于±0.1%

（1）  直流數字電壓表

測量范圍：0～199.9mv

靈敏度：100μv

準確度：0.2%（±2個字）

（2）  供電電源：

AC：220V   ±10%     50/60HZ    功率8W

（3）  使用環境：          相對濕度≤80%

（4）  重量、體積

重量：2.2 公斤        

體積：寬210×高100×深240（mm）